涌淳半导体取得基于光学膜厚自校准薄膜厚度测量装置专利:光学薄膜

金融界2025年7月22日消息,国家知识产权局信息显示,涌淳半导体(无锡)有限公司取得一项名为“一种基于光学膜厚自校准的高稳定性薄膜厚度测量装置”的专利,授权公告号CN120063140B,申请日期为2025年04月光学薄膜

天眼查资料显示,涌淳半导体(无锡)有限公司,成立于2020年,位于无锡市,是一家以从事专用设备制造业为主的企业光学薄膜 。企业注册资本2000万人民币。通过天眼查大数据分析,涌淳半导体(无锡)有限公司共对外投资了1家企业,参与招投标项目2次,财产线索方面有商标信息4条,专利信息42条,此外企业还拥有行政许可3个。

来源:金融界

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