-
光驰科技申请Ag薄膜层光学常数测量相关专利，可相对精准获取光学常数:光学薄膜
金融界2025年8月9日消息，国家知识产权局信息显示，光驰科技（上海）有限公司申请一项名为“一种Ag薄膜层光学常数的测量结构及测量方法”的专利，公开号CN120443107A，申请日期为2024年02
1
共1页
金融界2025年8月9日消息，国家知识产权局信息显示，光驰科技（上海）有限公司申请一项名为“一种Ag薄膜层光学常数的测量结构及测量方法”的专利，公开号CN120443107A，申请日期为2024年02