-
椭偏仪原理和应用 | 精准测量不同基底光学薄膜TiO₂/SiO₂的光学常数:光学薄膜
椭偏仪作为表征光学薄膜性能的核心工具，在光学薄膜领域具有不可替代的作用光学薄膜。本研究聚焦基底类型（K9玻璃、石英玻璃、单晶硅）对溶胶-凝胶法制备的TiO₂和SiO₂薄膜光学性能的调控机制。Fle
-
光驰科技申请Ag薄膜层光学常数测量相关专利，可相对精准获取光学常数:光学薄膜
金融界2025年8月9日消息，国家知识产权局信息显示，光驰科技（上海）有限公司申请一项名为“一种Ag薄膜层光学常数的测量结构及测量方法”的专利，公开号CN120443107A，申请日期为2024年02
1
共1页